簡介
TR Scan, 毫無疑問, 將成為非接觸表面形貌測量領域最引人注目的創舉. 其系統核心采Trimos DHM®技術, 廣泛應用于生物及醫藥工程領域. 系統本身基于對表面結構的物理全息特征分析, 此技
術被Trimos獨特地用于工業表面檢測, 與傳統非接觸表面測量儀器相比, 它可測量高反射表面, 鏡面
經過拋光或者很小的部件TR Scan在滿足高速測量的同時, 也保證了納米級精度, 只需幾微秒就可以獲得百萬點三維圖形. 正是因為如此快的速度, 消除了因振動帶 來的所有誤差, 由此克服光學測量系統的傳統誤差.
其測量頭可兼容探針(接觸式測量), 并可與其他光學測量傳感器互換使用, 復合式的測量解決方案, 可檢定各種表面結構, 應用于各行各業: 機械工業(所有加工表面), 汽車, 航天航空, 表面涂敷, 聚合涂層, 光學元件, 醫學儀器, 假肢制造, 微型機電系統, 造紙, 半導體, 科研機構以及計量單位.
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極快的測量速度
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抗振動性高
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Z軸納米級分辨率
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激光找正迅速實現工件定位
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非接觸式測量, 無損檢測
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曲線及表面分析
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自學習編程測量模式
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可兼容各種2D及3D標準
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Trimos® NanoWare
Trimos® NanoWare軟件控制測量過程及分析結果. 模塊化的概念滿足不同的要求及持續性開發.
NanoWare僅能完成測量結果的分析評估, 并能生成專業的檢測報告.擁有國際權威的評價標準程序來實時更新國際標準測量符合以下標準: ISO(4287, 4288, 11562, 1101, 12085, 13563, 等), 法國標準NF, 制造標準CNOMO, ASME(B46.1)和DIN標準; 三維表面特征數據標準ISO 25178系列
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操作簡便, 界面友好
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功能靈活, 可二次開發
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全自動測量
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用戶自定義測量標準
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包含所有2D及3D標準
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Trimos® NanoWare LT
2D輪廓測量分析基本模塊. 使用極其簡單, 此模塊包
括評估表面參數的部分重要功能
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輪廓, 粗糙度, 波度分析
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最關鍵參數(Ra, Rq, Rt, ...)
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線材比率曲線
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成型, 拉平, 視圖等濾波器
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所有測量可復現三維形貌
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Trimos® NanoWare XT
2D輪廓測量分析完整模塊, 此模塊基本包括專
業級軟件所有功能
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包含RLq, RLo, RPC, RzJIS, R3z ...
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光譜線及形態分析
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測量點管理/再采集
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主題相關參數
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形貌及自相關聯分析
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所有測量可復現三維形貌
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顯示/軟件
Trimos® NanoWare STT
3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及符合ISO 25178表面分析
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3D基本參數(Sa, Sq, St, Smr, ...)
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表面圖形仿真
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距離, 高度及角度測量
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成型, 拉平, 視圖等濾波器
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最終結果管理
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測量點管理/再采集
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輪廓提取, 體積測量
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市場上最高性能的軟件
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表面圖層研究
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3D形貌鑒定
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顆粒度研究
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紋理分析
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表面及輪廓統計分析及研究
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主機
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TR Scan
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100
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200
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300
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X軸測量范圍 mm
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--
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100
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100
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Y軸測量范圍 mm
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--
|
--
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100
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Z軸垂直位移范圍 mm
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240
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||
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XYZ定位精度 um
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1
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||
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儀器重量 kg
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800.25X0.25
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||
DHM測量頭
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DHM
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S2
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垂直最大分辨率(Z軸) nm
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0.1
|
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最大測量范圍(Ra) um
|
1
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最大測量范圍(Rz) um
|
5
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最大允許誤差(Ra) %
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1%
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重復性(Ra, 1σ) nm
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<0.1
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樣品反射率 %
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<1%-100%
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測量視野 mm
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0.25X0.25
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技術參數
色譜共焦測量頭
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CCMP
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CL 1
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CL 2
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CL 3
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CL 4
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CL 5
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CL 6
|
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垂直測量范圍 um
|
100
|
300
|
1100
|
3000
|
10000
|
20000
|
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工作距離 mm
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3.3
|
11
|
12.7
|
16.4
|
29
|
19.6
|
|
軸向分辨率 um
|
0.005
|
0.012
|
0.025
|
0.075
|
0.280
|
0.600
|
|
軸向精度 um
|
0.02
|
0.06
|
0.2
|
0.4
|
0.9
|
3
|
|
最大爬坡能力 deg
|
+/-43
|
+/-28
|
+/-27
|
+/-22
|
+/-14
|
+/-8.6
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接觸式測量頭
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DIA
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P1
|
|
垂直最大分辨率(Z軸) nm
|
10
|
|
最大測量范圍(Ra) um
|
10
|
|
最大測量范圍(Rz) um
|
200
|
|
最大允許誤差(Ra) %
|
5%
|
|
重復性(Ra, 1σ) nm
|
<9
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注：聯系我時，請說是在“傲立機床網”上看到的，謝謝！
